高精度光学三维形貌测量仪

浏览：1790 作者：集萃华科时间：2022/5/30 10:25:52 分类：测量装备

Zeus是高精度的光学三维形貌检测平台，采用先进的直驱闭环运动控制，搭载多种光学检测头完美实现三维轮廓高速扫描测量。Zeus平台具备完整的软件功能，可在现代外观下进行直观的操作，轻松完成三维形貌分析，截面轮廓分析、GD&T尺寸分析、粗糙度分析、2D图像尺寸测量和分析等功能。满足不同类型产品尺寸和外观检测的需求。

产线高难度测量一站式解决方案

Zeus专注于高要求和快速的测量需求。稳定的结构设计使得在各种应用环境，包括在线，现场和实验室，均能够精准测量。强大的Zeus软件既能满足产线自动化重复检测需求，又能针对实验室的各种不同要求进行灵活配置。

快速精准
Zeus支持一系列高精度传感器技术;
对于速度要求特别高的检测需求，我们有高精度光谱共聚焦线传感器可供选择;而对于要求最高极限分辨能力的测量要求，应用图像共聚焦面传感器则能提供最高测量精度时保证测量速度。

测量范围
ZeusXY运动平台行程高达400 mm x400 mm并且可选大理石底座平台。一方面，最大高度测量范围可达4mm;另一方面，最大高度分辨能力高达1nm;这使Zeus能够轻松应对最严苛的测试任务，传感器最高可达到36万测点/秒亚微米及分辨率。

案例应用